| English - Nederlands | ||||
| computercollectief | comcol.nl | |||
| computerboeken & software | computerboeken | |||
| home | producten | verwacht | koopjes | licenties | nieuwsbrief | dealer-info | contact | winkelwagen | ||
| zoeken | nieuw | thema's | acties | hoe bestellen | faq | winkels | over ons | afrekenen |
| computerboeken » algemeen of platformonafhankelijk » hardware » hardware en interfacing » hardware en interfacing algemeen | ||
![]() | Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory & Mixed-Signal VLSI CircuitsSpringer | 2000 | 690 blz. | Michael L. Bushnell, Vishwani D. AgrawalPart I: Introduction, Test Process and ATE, Test Economics and Product Quality, Fault Modeling Part II: Logic and Fault Simulation, Testability Measures, Combinational ATPG, Sequential ATPG, Memory Test, DSP-Based Analog Test, Model-Based Analog Test, Delay Test, IDDQ Test Part III: DFT and Scan Design, BIST, Boundary Scan, Analog Test Bus, System Test and Core-Based Design, Future of Testing Tutorial for Users, Beginning, Intermediate and Advanced Level onze prijs € 78,90 incl. BTW (€ 74,43 excl. BTW) — ISBN: 9780792379911 | 0792379918 |
| Verzendkosten slechts € 1,95 (voor bestellingen boven de 20 euro in Nederland, daaronder € 4,95) | ||||
| Alleen op bestelling | dit artikel toch bestellen | naar de kassa | ||||||||
| Let op: dit artikel is niet uit voorraad leverbaar maar het kan wel speciaal voor u besteld worden. De levertijd kan variëren van een paar dagen tot een paar weken, afhankelijk van de leverancier. | |||
| Electronic design and test engineers of today deal with several types of subsystems, namely, digital, memory, and mixed-signal, each requiring different test and design for testability methods.
This book provides a careful selection of essential topics on all three types of circuits. The outcome of testing is product quality, which means "meeting the user's needs at a minimum cost." The book includes test economics and techniques for determining the defect level of VLSI chips. Besides being a textbook for a course on testing, it is a complete testability guide for an engineer working on any kind of electronic device or system or a system-on-a-chip. | ||
| soort artikel | computerboeken | ||
| ons bestelnummer | 2361-H5 | ||
| titel | Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory & Mixed-Signal VLSI Circuits | ||
| onderwerp | hardware en interfacing algemeen | ||
| uitgever | Springer [SPR a] | ||
| website uitgever | www.springer.de | ||
| ISBN-13 | 978-0-7923-7991-1 | 9780792379911 | ||
| ISBN-10 | 0-7923-7991-8 | 0792379918 | ||
| gepubliceerd in | 2000 | ||
| geschreven door | Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal | ||
| dit boek behandelt | US versie | ||
| taal van het boek | Engels US | ||
| aantal bladzijden | 690 | ||
| uitvoering | hardcover | ||
| geïmporteerd door | Computercollectief BV | ||
| artikelcode fabrikant | 978-0-7923-7991-1 | ||
| barcode | 9780792379911 |
| naar uitvoerig | compact overzicht | Nog 30 andere boeken over hardware en interfacing algemeen | ||
| verzendkosten - verkoopvoorwaarden - privacyverklaring | |||